半導體高低溫循環(huán)試驗機

　　半導體高低溫循環(huán)試驗機

　　高低溫試驗箱規格

　　▲型號：OK-TS

　　▲溫度范圍：高溫:150℃/低溫:(A：+25℃ ; B：0℃ ; C：-20℃ ; D：-40℃ ; E：-60℃ ;F：-70℃)

　　▲內箱尺寸(W*H*D) 40×50×40cm

　　▲外箱尺寸(W*H*D) 120×165×115cm

　　半導體高低溫循環(huán)試驗機的特點(diǎn)：

　　▲高低溫試驗箱箱體內膽采用不銹鋼板制成，外殼采用鋼板噴塑

　　▲*的BTC平衡調溫方式，穩定平衡的加熱能力，調節理想溫度環(huán)境，進(jìn)行高精度高穩定的溫度控制

　　▲具有隨溫度的設定數值自動(dòng)選擇運轉制冷回路的功能，操作簡(jiǎn)單

　　▲設有觀(guān)察窗，照明燈，可隨時(shí)觀(guān)察樣品情況

　　▲高低溫試驗箱控制系統：進(jìn)口高精密數顯儀表，進(jìn)口執行元器件

　　設備使用條件：

　　▲環(huán)境溫度：5℃～+28℃(24小時(shí)內平均溫度≤28℃)

　　▲環(huán)境濕度：≤85%R.H

　　▲操作環(huán)境需要室內通風(fēng)良好,機器放置前后左右各80公分不可放置東西;

　　▲該系列產(chǎn)品適用于對電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應性。產(chǎn)品參照標準GB10589《低溫試驗箱技術(shù)條件》、GB11158《高溫試驗箱技術(shù)條件》、GB10586《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。(具體性能參數以技術(shù)協(xié)議為準。)